Преподаватели КООЦИИ приняли участие в форуме «Микроэлектроника»
28 сентября – 2 октября 2026 года на основной части Форума "Микроэлектроника" (Федеральная территория «Сириус», Университет «Сириус») доцент КООЦИИ, к.т.н. Т.Д. Овасапян и доцент КООЦИИ, к.т.н. Д.В. Иванов приняли участие в работе секции «Доверенные ПАК и ЭКБ для критической гражданской инфраструктуры». Т.Д. Оваспян сделал доклад на Круглом столе «Аппаратные уязвимости в изделиях микроэлектроники: как применить опыт анализа ПО для выявления уязвимостей в ЭКБ?».
Малое число известных аппаратных уязвимостей говорит не о надежности ЭКБ, а о высоком пороге вхождения в их поиск. Для анализа кода достаточно рабочей станции и открытых инструментов. Для анализа кристалла требуются измерительное оборудование, доступ к описанию схемы и компетенции в схемотехнике и физике полупроводников.
Пока этот порог не будет снижен, аппаратные уязвимости будут выявлять единицы специалистов. Современные методы ИИ могут помочь в преодолении порога входа в поиск уязвимостей в аппаратуре.
Трек посвящён тематике создания и контроля работоспособности изделий микроэлектроники и оптоэлектроники общего и специального назначения, в том числе, радиационно-стойких, а именно:
– микропроцессоров и микроконтроллеров;
– ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхем памяти, интерфейсных схем;
– аналого-цифровых и цифроаналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;
– аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания;
– СФ-блоков, систем на кристалле (СнК) и систем в корпусе (СвК) на их основе, в том числе, реализованных в условиях контрактных производств;
– изделий оптоэлектроники и радиофотоники;
– особенностям проектирования и испытаний радиационно-стойких и/или информационно-защищенных (доверенных) микросхем, электронных модулей, комплексов и систем специального назначения;
– методикам и аппаратно-программным средствам для тестирования и контроля работоспособности изделий микро- и оптоэлектроники;
– вопросам обеспечения и контроля качества, надёжности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учётом влияния режимов, условий и сроков эксплуатации;
– вопросам информационной безопасности, идентификации и выявления контрафактных изделий.
Информация о форуме доступна по ссылке: https://microelectronica.pro/